Tesis > Documento


Ver el documento (formato PDF)   Costantino, Santiago.  "Interferometría de banda ancha para la medición de espesores"  (2003)
Facultad de Ciencias Exactas y Naturales. Universidad de Buenos Aires
URL:
     
Resumen:
En esta tesis se presenta el desarrollo de la técnica interferometría de banda ancha en oposición a la interferometría de luz blanca como un método para medir espesores de líquidos y láminas delgadas. Es posible ganar precisión en la medición reduciendo el ancho de banda de la fuente para evitar las distorsiones causadas por la dispersión del material. A partir del análisis de este efecto se refiita el dogma establecido de que el mayor ancho de banda posible es el óptimo. Se demuestra que el conocimiento preciso de la dependencia del índice de refracción con la longitud de onda es imprescindible para una medición adecuada del espesor de un medio dispersivo. El dispositivo experimental presentado es, además, adecuado para obtener esta dependencia con suficiente resolución. En el marco del desarrollo de una técnica capaz de medir con eficiencia espesores de lubricantes, pinturas y barnices, se ilustran los alcances del sistema con la medición del espesor de aceite de siliconas sobre una superficie plana en tiempo real. Finalmente se propone una modificación al esquema experimental con el objetivo de reducir el espesor mínimo mensurable. Se presenta el desarrollo de la Interferometría de tres ondas como la solución para ampliar el rango dinámico de la interferometría de banda ancha.

Abstract:
In this thesis a new technique called Wide Band interferometry is presented as opposed to White-light interferometry to introduce a thickness measurement method for thin films and liquids. It is possible to gain precision by reducing the bandwidth of the light source in order to avoid distortions arising from the material dispersion. The established dogma that the widest possible bandwidth is the optimum falls after the analysis of this effect. It is shown that the precise knowledge of the frequency dependence of the refractive index is essential for an adequate thickness retrieval in optical experiments. The experimental device that is presented is also useful to obtain this information with enough resolution. Regarding the development of a method that allows to efficiently measure the thickness of lubricants, paints and varnishes, an experiment that shows the spreading of a silicone oil on a plane surface in real time is shown. Finally, a modification to the experimental setup is proposed in order to reduce the minimum measurable thickness. Three Wave interferometry is presented as a solution to increase the dynamic range of Wide Band interferometry.

* A este resumen le pueden faltar caracteres especiales. Consulte la versión completa en el documento en formato PDF

Registro:
Título : Interferometría de banda ancha para la medición de espesores     =    Wide band interferomtry for thckness measurement
Autor : Costantino, Santiago
Director : Martínez, Oscar Eduardo
Año : 2003
Editor : Facultad de Ciencias Exactas y Naturales. Universidad de Buenos Aires
Filiación : Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales
Departamento de Física. Laboratorio de Electrónica Cuántica
Grado obtenido : Doctor en Ciencias Físicas
Ubicación : Preservación - http://digital.bl.fcen.uba.ar/gsdl-282/cgi-bin/library.cgi?a=d&c=tesis&d=Tesis_3572_Costantino
Idioma : Español
Area Temática : Física / Óptica
Palabras claves : INTERFEROMETRIA; BANDA ANCHA; ESPESORES; LUBRICANTES; TRIBOLOGIA; DISPERSION DE INDICE DE REFRACCION; INDICE DE GRUPO; TRES ONDAS; INTERFEROMETRY; WIDE BAND; THICKNESS MEASIREMENT; LUBRICANTS; TRIBOLOGY; REFRACTIVE INDEX DISPERSION; GROUP INDEX; THREE WAVE
URL al Documento : 
URL al Registro : 
hola chau _gs.DocumentHeader_ chau2 _documentheader_ chau3
Estadísticas:
     http://digital.bl.fcen.uba.ar
Biblioteca Central Dr. Luis Federico Leloir - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales - Universidad de Buenos Aires
Intendente Güiraldes 2160 - Ciudad Universitaria - Pabellón II - C1428EGA - Tel. (54 11) 4789-9293 int 34